元器件可靠性检测、筛选及相关试验

CNAS/ DILAC认证的范围：盐雾、稳态湿热、浸渍、低气压、耐湿、温度冲击、高温寿命、稳态寿命、稳态加速度、恒定加速度、粒子碰撞噪声检测、密封、可焊性、耐焊接热、引出端强度、耐溶剂性、电压处理、电压温度特性、温度系数和电容量温度循环漂移、低温试验和电容量随温度变化、高低温特性、电阻温度特性、温升、过载、

浪涌电流、85℃交流纹波寿命、芯片抗剪强度、健合强度、再流焊、高低温储存、反向电压、外观和尺寸检查、DPA、冲击、振动、内部目检、绝缘电阻、介质耐压、电容量测试、损耗角正切、漏电流、阻抗、ESR、电性能等试验项目。

涵盖产品： 电容、电阻、电感、微波功率器件、电源模块、电源管理芯片类。

部分高端试验设备：

高温老化系统

    X光机

GDW- 125高 低 温 冲 击 试 验 箱

电子显微镜